منتجات
Fault finding on transistors by the MOS transistor testing selector: • Measure parameters: Open voltage UGS (th), internal resistance RDS, Transconductance gm, Withstand voltage V (BR)
يونيو 19, 2025
لا توجد تعليقات
Fault finding on transistors by the MOS transistor testing selector: • Measure parameters: Open voltage UGS (th), internal resistance RDS, Transconductance gm, Withstand voltage V (BR)
100% منتج أصلي مغطى بالضمان من قبل البائع.
لديك الحق في إرجاع طلبياتك خلال 30 يومًا.
يتم شحن طلباتك بسلاسة بين البلدان
مدفوعاتك آمنة مع شبكتنا الأمنية الخاصة.
AR 
EN 
ES 
RU 
PT 
TR 
DE 
PL 
IT 
FR 
KO 
JA 
ID