IC テスト用 ESD-CDM ESD ガンは、チャージド・デバイス・モデル（CDM）放電の静電気放電イミュニティ・テストの特性および要件に合わせて特別に設計されています。LEDチップ、トランジスタ、ICなどの半導体デバイスの静電気イミュニティを試験することができます。以下の対応規格の要求事項に従って設計・製造されており、以下の規格の中で最も厳しい静電気電圧の要求事項を完全に満たしています。

ESD-CDMシステムは主に3つの部分で構成されています：直流高電圧源、主装置、静電気試験プローブ（アッテネータを含む）。これは帯電デバイスモデル（CDM）の静電誘導帯電、静電放電、放電信号取得試験機能を実現することができます。注：ESD-CDMは、帯電デバイスモデル（CDM）とホストを共有することができます。 ESD-883D HBM/MM ESDシミュレータ HBM、MM、CDMを同時にテストする（LISUNモデル：ESD-883D/ESD-CDM）

システム構成:
直流高電圧源：
a.電圧出力範囲：±(10V~5kV)；
b.電圧出力の最大許容誤差：±（3%×読取値＋10V）；

主な楽器：
a.高電圧の漏れを防ぐため、高電圧誘導板を絶縁する；
b.高電圧誘導板＋絶縁板」は三方向に調整でき、調整範囲は0~10cm、調整精度は0.1mm（手動調整）；
c.センサーボードのサイズ：12cm*12cm*2mm；
d.絶縁ボードのサイズ：12cm*12cm*0.4mm、材質：FR4

静電気試験プローブ：
a.静電気放電電流パルスピーク≥20Aの最大測定能力；
b.プローブのサイズ：Φ1.5*10mm、伸縮自在の長さ: ≈3mm；
c.テスト・プローブは調節可能な速度0.1cm/s~5cm/sと垂直に動くことができる(プログラム制御+手動制御)
d.テストプローブ部にはアッテネータが装備され、オシロスコープに直接接続するためのデータ収集ポート/ラインが残されている。
e.接地面サイズ：63.5mm*63.5mm*6.35mm

概略図

原理参考図（ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2014）

概略図

等価回路図

テストプローブ物理的参照画像

ベースとなるフィジカル・ピクチャー

ベースの3次元調整の模式図（参考図）

テスト運用プロセス：
1.DUTを絶縁ボードの上に置き、固定具を固定し、ピンを上に向ける；
2.DUTのピンが中央に来るように、ベースの三次元ノブを手動で調整する；
3.テストプローブを手動で最大変位まで操作し、ピンと接触していることを確認した後、元の位置に戻す；
4.プローブの移動速度を適切な値に設定する；
4.DUTを静電誘導帯電状態にするため、高電圧源をXXボルトにスタートさせる；
5.プローブを自動的に素早く下降させ、ピンに接触させて CDM 放電を完了させる。同時に、放電波形データを同軸ケーブルでオシロスコープに伝送し、表示・保存する。

テスト操作プロセスの模式図