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벌크 전류 주입 테스트 시스템(BCI)은 표준 ISO11452-4를 완벽하게 충족합니다.

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벌크 전류 주입 테스트 시스템(BCI)은 표준 ISO11452-4를 완벽하게 충족합니다.

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제품 설명

LSBCI-40 벌크 전류 주입 테스트 시스템(BCI)은 표준을 완벽하게 충족합니다. ISO 11452-4: 2011, GB/T 32960.2-2016, GB/T 17619 및 GB/T 33014.4. 100KHz의 초저 시작 주파수는 글로벌 자동차 회사의 테스트 요구 사항을 충족하기에 충분합니다. 3채널 파워 미터가 내장되어 있으며 방향성 커플러를 사용하여 순방향 및 역방향 전력을 실시간으로 모니터링할 수 있습니다.

표준:
ISO 11452-4  "도로 차량 - 협대역 방사 전자기 에너지로 인한 전기적 장애에 대한 부품 테스트 방법 - 파트 4: 하네스 여기 방법"
GB/T 32960.2-2016 "전기자동차 원격 서비스 및 관리 시스템 기술 사양 - 2부: 온보드 단말기"

시스템 구성 및 기술 매개변수:

1. 테스트 호스트
테스트 전류 개방형 루프 테스트(대체 테스트) ≤300mA;
폐쇄 루프 테스트 ≤200mA(완전 자동 보정, 완전 자동 테스트 및 테스트 중 출력 전력 모니터링)
출력 임피던스 50Ω
전압 정재파 비율 ≤1.2
중국어 및 영어 소프트웨어 Win7 , Win8 和 Win10 , Win11 지원
2. 신호 소스(내장)
빈도 9kHz~3GHz
출력 레벨 -60~10dBm
변조되지 않은 신호 연속 웨이브
변조 모드 진폭 변조 주파수: 0.1Hz~500kHz; 변조 깊이: 0~100%
펄스 변조 주파수 : 0.1Hz ~ 20kHz; 듀티 사이클 : 1 ~ 100%
3. 파워 앰프(내장)
출력 주파수 100kHz~400MHz(1GHz까지 확장 가능)
최대 출력 전력 125W(선형 전력)
하모닉 <15dBc
4. 파워 미터(내장)
입력 빈도 9kHz~3GHz
입력 전원 -40dBm~+30dBm
5. 방향성 커플러(내장): 커플링 정도 40dB
6. F-120-6A 전류 주입 프로브: 최대 입력 전력 1000W
7. F-52B 전류 모니터 프로브: 최대 입력 전력 1000W
8. FCC-BCICF-1 벌크 전류 주입 프로브 고정구: 전류 주입 프로브용 고정구
9. 인공 전력 네트워크
표준 준수 CISPR 16-1-2, CISPR 25, ISO 7637-2, ISO 11452-4, MIL-STD-461F, ECE R10
주파수 범위/임피던스 0.1~150MHz / (5µH + 1옴) || 50옴(+/- 10 %)
최대 연속 전류/최대 단시간 전류 200A/250A
최대 전압 DC1000V, AC50/60Hz는 400Vrms, AC400Hz는 300Vrms입니다.
10. 테스트 테이블
BCI 테스트 테이블 2*1*0.9m
BCI 접지 커플링 플레이트 가장자리 스트립은 300mm 간격으로 접지되어 있으며 각 접지 스트립의 종횡비는 7:1입니다. 재질: 황동
참조 접지면 2 * 1 * 2mm , 재질: 황동
11. 전자기 차폐 캐비닛: SDR-4000B, 내부 치수는 4000*1200*1800mm(추가 비용으로 옵션, 치수는 고객 요구 사항에 따라 설계할 수도 있음)

1부: 테스트 단계
A. 테스트 전에 전류 주입 프로브에서 생성된 방해 전류가 캘리브레이션 고정 장치의 요구 사항을 충족하는지 확인한 다음 전류 프로브를 테스트할 하니스의 지정된 위치에 고정합니다.
B. 보정을 통해 얻은 순방향 전력을 기준으로 하네스에 간섭을 가합니다. 테스트 중에는 전류 강도가 모니터링되지 않으며 순방향 전력은 더 이상 조정되지 않습니다.
C. 하니스의 길이와 전류 주입 프로브와 테스트 대상 하니스 사이의 상대적 거리는 테스트 대상 하니스의 방해 전자기장의 결합 정도에 영향을 미칩니다.

2부: 테스트 결과 결정 오픈 루프 방식은 주로 5단계로 나뉘며, 각 단계는 서로 다른 테스트 결과를 나타냅니다.
A. EUT의 기능이나 성능은 이상 없이 정상입니다.
B. 모든 기능 또는 성능이 간섭 상태에 있고, 하나 이상의 기능/성능이 지정된 허용 오차를 벗어나지만 간섭이 제거된 후 모든 기능 또는 성능이 지정된 허용 한계로 복원되고 저장된 데이터에 이상이 없어야 합니다.
C. 하나 이상의 기능/성능이 손실되지만 간섭이 적용된 후 EUT가 자동으로 정상 모드로 복구됩니다.
D. 하나 이상의 기능/성능이 손실되었지만 간섭이 적용된 후 사람의 개입을 통해 정상 모드로 복원됩니다.
E. 하나 이상의 기능/성능이 손실되었지만 간섭이 적용된 후에는 정상 모드로 복원할 수 없습니다.

3부: 테스트 시스템 레이아웃(ISO 11452-4 그림 2, 그림 1 및 그림 3 참조):
1. 기준 접지면: 기준 접지면은 두께가 0.5mm 이상인 금속판, 가급적 황동을 사용합니다. 테스트 벤치와 기준 접지면의 길이와 너비는 1700×1000mm 이상이고 접지 재료의 임피던스는 2.5밀리옴 이하이며 간격은 300mm를 넘지 않아야 합니다;
2. 인공 전원 네트워크: 원격 접지의 경우 2개의 인공 전원 네트워크가 필요하고, 근거리 접지의 경우 1개의 인공 전원 네트워크(양극에 연결)만 필요합니다;
3. EUT 배치: 테스트 대상 제품은 유전율이 낮고(1.4 이하) 두께가 50(±5) mm인 절연 재료 위에 놓아야 합니다. 테스트 하네스 EUT와 시뮬레이션된 하네스의 총 길이는 다음과 같아야 합니다: 1000(±100) mm여야 하며, 테스트 하네스는 유전율이 1.4 이하이고 두께가 50(±5) mm인 절연 재료 위에 놓아야 합니다.
4. 고전류 주입 프로브: 사출 프로브와 EUT 사이의 거리 d는 다음과 같습니다:
d=(150±10)mm
d=(450±10)mm
d=(750±10)mm

ISO 11452 4 2020 그림 2 1

ISO 11452-4:2020 그림 2

4부: 테스트 보고서 샘플:

LSBCI 40 데이터

LSBCI-40 데이터

LSBCI 40 오픈 루프 테스트

LSBCI-40 개방형 루프 테스트

LSBCI 40 폐쇄 루프 테스트

LSBCI-40 폐쇄 루프 테스트

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