Produkty
Fault finding on transistors by the MOS transistor testing selector: • Measure parameters: Open voltage UGS (th), internal resistance RDS, Transconductance gm, Withstand voltage V (BR)
czerwiec 19, 2025
Brak komentarzy
Fault finding on transistors by the MOS transistor testing selector: • Measure parameters: Open voltage UGS (th), internal resistance RDS, Transconductance gm, Withstand voltage V (BR)
100% Oryginalny produkt, objęty gwarancją sprzedawcy.
Masz prawo zwrócić zamówienie w ciągu 30 dni.
Twoje zamówienia są bezproblemowo wysyłane między krajami
Twoje płatności są bezpieczne dzięki naszej prywatnej sieci zabezpieczeń.
PL 
EN 
ES 
RU 
PT 
TR 
AR 
DE 
IT 
FR 
KO 
JA 
ID