продукты
Fault finding on transistors by the MOS transistor testing selector: • Measure parameters: Open voltage UGS (th), internal resistance RDS, Transconductance gm, Withstand voltage V (BR)
Июнь 19, 2025
Комментариев нет
Fault finding on transistors by the MOS transistor testing selector: • Measure parameters: Open voltage UGS (th), internal resistance RDS, Transconductance gm, Withstand voltage V (BR)
100% Оригинальный продукт, на который распространяется гарантия поставщика.
Вы имеете право вернуть свои заказы в течение 30 дней.
Ваши заказы бесперебойно доставляются между странами
Ваши платежи защищены нашей частной сетью безопасности.
RU 
EN 
ES 
PT 
TR 
AR 
DE 
PL 
IT 
FR 
KO 
JA 
ID